探針臺(tái)是一種精密的電子測試設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。

探針臺(tái)的主要功能是進(jìn)行精密電氣測量，以確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，同時(shí)也能縮減研發(fā)時(shí)間和降低制造工藝的成本。它主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號(hào)，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個(gè)測試，實(shí)現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測試測量。探針臺(tái)通常包括載物臺(tái)、光學(xué)元件、卡盤、探針卡、探針夾具及電纜組件等部分。

   此外，探針臺(tái)也用于網(wǎng)絡(luò)測量的工具，可以測量網(wǎng)絡(luò)的延遲時(shí)間、吞吐量和丟包率等指標(biāo)，從而評(píng)估網(wǎng)絡(luò)的性能和可靠性。